功能测试系统 fct 功能测试系统 洋嘉电子

FCT测试系统接口

随着自动测试技术的发展，fct 功能测试系统，传统的人工测试正在逐渐被自动测试所取代。GPIB和PXI等标准总线的出现大大简化了自动测试系统的开发复杂度，构建测试系统变成了组合各种仪器模块。但是UUT的类型还是复杂多样的，尤其信号类型也千变万化；因此，设计一个良好的连接UUT和测试资源TR的测试接口ITA，是简化测试系统复杂度的关键。

fct功能测试治具定位原理

以“边/孔”定位对于面积尺寸较大的电路板，可以采用“边/孔”定位，功能测试系统 FCT，这也属于约束性过定位的一种。定位板限制2个自由度，定位柱限制2个自由度。这种形式中，功能测试系统，通常定位柱和UUT定位孔的间隙需要留的更大一些。

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fct功能测试治具定位原理

以“孔/孔”定位

对于狭长形的UUT，由于其容易变形，使用上述1和2的方式均需要用到电路板的外缘轮廓，因此并不准确，此时应采用双孔定位。注意对于变形较大的UUT，功能测试系统fct，此孔的位置也不宜选在电路板的两端，但两孔间距也不宜过小，设计时定位柱和定位孔的间隙适量放大，一般在0.1mm～0.3mm。综上可见，电路板的定位对于治具设计极为重要，不同的定位方式直接影响到定位精度及测试设备的结构， 因此定位方式的选择很重要。综合考虑以上各种现行方案的优缺点，设计为 “一面两空”的定位方式，如下如所示，即利用UUT的一个平面和两个（或多个）定位孔，特点是制取方法容易、夹具结构简单、制造加工容易，、满足精度要求。

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